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三丰轮廓粗糙度仪SV-C3200
三丰轮廓粗糙度仪SV-C3200
产品详情

大幅提高的驱动速度(X轴:80mm/s,Z2轴立柱:30mm/s)进一步减少了总的测量时间。

 

为了更长时间地保持直线度,三丰公司采用了抗老化且极耐磨的非常坚固的陶瓷导轨;

 

驱动器(X轴)和立柱(Z2轴)均配备了高精度线形编码器(其中Z2轴上为ABS型)。因此,在垂直方向对小孔连续自动测量、对较难定位部件的重复测量的重复精度得以提高。

 

轮廓测量技术参数:

 

X轴

 

测量范围:100mm或200mm

 

分辨率:0.05μm

 

检测方法:反射型线性编码器

 

驱动速度:80mm/s、外加手动

 

测量速度:0.02-5mm/s

 

移动方向:向前/向后

 

直线度:0.8μm/100mm,2μm/200mm *以X轴为水平方向上

 

指示精度(20°C时):±(0.8+0.01L)μm(SV-C3200S4,H4,W4) (SV-C4500S4,H4,W4)

 

±(1+0.02L)μm(SV-C3200S8,H8,W8) (SV-C4500S8,H8,W8) *L为驱动长度(mm)

 

倾角范围:±45°

 

Z2轴(立柱)

 

垂直移动:300mm或500mm

 

分辨率:1μm

 

检测方法:ABSOLUTE线性编码器

 

驱动速度:0-30mm/s、外加手动

 

Z1轴(检测器)

 

测量范围:±30mm

 

分辨率:0.04μm(SV-C3200),0.02μm(SV-C4500)

 

检测方法:圆弧光栅尺

 

指示精度(20°C时):±(1.6+I 2H I/100)μm(SV-C3200)

 

±(0.8+I 2H I/100)μm(SV-C4500) *H:基于水平位置的测量高度(mm)

 

测针上/下运作:弧形移动

 

测针方向:向上/向下

 

测力:30mN

 

跟踪角度:向上:77°,向下:83°

 

(使用配置的标准测头,依表面粗糙度而定)测针针尖尖端半径:25μm、硬质合金尖端

 

表面粗糙度测量的技术参数:

 

X1轴

 

测量范围:100mm或200mm

 

检测方法:线性编码器

 

驱动速度:80mm/s

 

移动方向:向后

 

直线度:(0.05+L/1000)μm(S4,H4,W4型)

 

0.5μm/200mm(S8,H8,W8型)

 

Z2轴(立柱)垂直移动:300mm或500mm

 

分辨率:1μm

 

检测方法:ABSOLUTE线性编码器

 

驱动速度:0-30mm/s、外加手动

 

检测器

 

范围/分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,8μm/0.0001μm(2400μm使用测头选件)

 

检测方法:无轨/有轨测量

 

测力:4mN或0.75mN(低测力型)

 

测针针尖:金刚石、90o/5μmR(60o/2μmR:低测力型)

 


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2016

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